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Silent Switcher技術(shù)解決電磁干擾，提高效率
自1844年以來，降低電子電路中的噪音一直是設(shè)計師們面臨的一個挑戰(zhàn)。1844年，摩爾斯在華盛頓的國會大廈里，操作電報機發(fā)出了世界上第一封電報，內(nèi)容是：上帝創(chuàng)造了何等的奇跡（來自《圣經(jīng)》）。從那時起，電路中的繼電器產(chǎn)生的靜電噪音或其他外部干擾，就從來沒有離開過電子科學。
2020-08-21
Silent Switcher 電磁干擾
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如何調(diào)節(jié)MAX2009/MAX2010 RF預失真器來優(yōu)化系統(tǒng)性能？
類似于 WCDMA 的線性調(diào)制方案能夠支持較高的數(shù)據(jù)速率，每個載波允許多個無線連接，但會造成載波信號較高的峰均比。與恒包絡(luò)調(diào)制不同(恒包絡(luò)調(diào)制中允許 PA (功率放大器)采用小尺寸)，目前應用中的放大器必須采用較大的散熱面積，以滿足鄰信道泄漏的要求。
2020-08-21
MAX2009/MAX2010 RF預失真器
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單電感多輸出(SIMO)開關(guān)穩(wěn)壓器技術(shù)
與傳統(tǒng)的 DC-DC 方案相比，單電感多輸出(SIMO)電源轉(zhuǎn)換器架構(gòu)在節(jié)省空間的同時仍然保持高效率，有效延長電池壽命。通過單電感提供多路輸出，SIMO 架構(gòu)與低靜態(tài)電流穩(wěn)壓器 IC 有效延長空間受限、電池供電產(chǎn)品的電池壽命。
2020-08-21
單電感 開關(guān)穩(wěn)壓器 DC-DC轉(zhuǎn)換器 LDO SIMO架構(gòu) 分立器件
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采用GaN實現(xiàn)48V至POL單級轉(zhuǎn)換
企業(yè)服務器、交換機、基站和存儲硬件設(shè)計師都在尋求在其主板上提高功率密度和效率。隨著主板上元件數(shù)量的增加和外形尺寸的減小，電源密度成為進一步減小面積的限制因素。電源越小，主板尺寸就越小，減小主板尺寸就可以將更多的主板裝入給定的機架中，最大限度地提高數(shù)據(jù)中心吞吐量和性能。
2020-08-21
GaN POL 單級轉(zhuǎn)換
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ADI帶你解讀實現(xiàn)復雜電子系統(tǒng)低電磁干擾的若干應用場景
對于汽車、通信以及測試與測量設(shè)備等廣大系統(tǒng)制造商來說，技術(shù)的發(fā)展帶來了終端功能與性能的大幅提升，其根源在于系統(tǒng)中配備的功能愈加豐富的電子模塊。
2020-08-20
ADI 電子系統(tǒng) 電磁干擾
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基于射頻無線電傳輸供電的無電池資產(chǎn)跟蹤模塊監(jiān)控系統(tǒng)
涉及精準定位和運輸數(shù)據(jù)的資產(chǎn)跟蹤模塊，非常適合組建無電池節(jié)點的無線傳感器網(wǎng)絡(luò)(WSN)。無電池的網(wǎng)絡(luò)節(jié)點幾乎可以部署在任何環(huán)境中，對維護工作的需求很少甚至沒有。
2020-08-20
射頻無線電傳輸 跟蹤模塊 監(jiān)控系統(tǒng) 能量收集 無線充電
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Astera Labs全面提供適用于PCIe 4.0和5.0互連的Aries Smart Retimer
智能系統(tǒng)連接解決方案的先驅(qū)Astera Labs今日宣布其專為PCI Express? (PCIe?) 4.0架構(gòu)設(shè)計的Aries Smart Retimer (PT4161L) 已投入量產(chǎn)，而專為PCIe 5.0架構(gòu)設(shè)計的Aries Smart Retimer (PT5161L) 正積極與戰(zhàn)略合作伙伴及客戶進行樣片驗證。
2020-08-19
Astera Labs PCIe 4.0 Aries Smart Retimer
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ADC誤差是如何產(chǎn)生的？
本篇文章列出了影響模數(shù)轉(zhuǎn)換精度的主要誤差。這些類型的誤差存在于所有模數(shù)轉(zhuǎn)換器中，轉(zhuǎn)換質(zhì)量將取決于它們的消除情況。STM32微控制器數(shù)據(jù)手冊的ADC特性部分規(guī)定了這些誤差 值。規(guī)定了STM32 ADC的不同精度誤差類型。為便于參考，將精度誤差表達為1 LSB的倍數(shù)。
2020-08-18
ADC誤差 模數(shù)轉(zhuǎn)換
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如何識別和防止7nm工藝失效
器件的良率在很大程度上依賴于適當?shù)墓に囈?guī)格設(shè)定和對制造環(huán)節(jié)的誤差控制，在單元尺寸更小的先進節(jié)點上就更是如此。過去為了識別和防止工藝失效，必須要通過大量晶圓的制造和測試來收集數(shù)據(jù)，然后對采集到的數(shù)據(jù)進行相關(guān)性分析，整個過程費時且昂貴。
2020-08-18
7nm工藝
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